GB/T 22319.7-2015
石英晶体元件参数的测量 第7部分:石英晶体元件活性跳变的测量

Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units

GBT22319.7-2015, GB22319.7-2015


标准号
GB/T 22319.7-2015
别名
GBT22319.7-2015, GB22319.7-2015
发布
2015年
总页数
7页
采用标准
IEC 60444-7:2004 IDT
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 22319.7-2015
 
 
适用范围
GB/T 22319的本部分规定了在温度范围内石英晶体元件活性跳变的测量方法。
术语描述
活性跳变
activity dip
石英晶体元件在规定负载电容及激励电平下,窄温度范围内由不同振动模式的耦合引起的变化
频率跳变
frequency dip (bandbreak)
石英晶体元件在规定温度范围内发生的不希望的扰动或起伏

GB/T 22319.7-2015 中提到的仪器设备

网络和高精密温箱
GB/T 22319规定的网络和能以极小的变化率升温的温箱
用于测量石英晶体元件的温度特性和谐振参数

专题


GB/T 22319.7-2015相似标准


GB/T 22319.7-2015系列标准





Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
页面更新时间: 2025-03-19 01:22